XRD残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
无i限制检索就是对图谱不作任何处理、不规定检索卡片库、也不作元素限定、检索对象选择为主相（S/M Focus on Major Phases）。
这种方法一般可检测出样品中的主要的物相。在对样品无任何已知信息的情况下可试着检索出样品中的主要物相，进而通过检索出来的主要物相了解样品中元素的组成。另外，在考虑样品受到污染、反应不完全的情况可试探样品中是否存在未知的元素。但是，这种方法不可能检索出全部物相，XRD残余应力检测哪里可以做，并且检索结果可能与实际存在的物相偏差较大，辽宁XRD残余应力检测，需要其它实验作进一步证实。
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由于百分之一i百的晶态的试样比较难制备，所以通常使用差异分析法。假定结晶相百分数正比于衍射峰积分强度之和，非晶相百分数正比于非晶散射峰积分强度。
即Xc=PIc;Xa=QIa
则:Xc=Ic(Ic+kIa)X100%
【注意：Ic为晶体部分的衍射积分强度，XRD残余应力检测服务，Ia为非晶部分的衍射积分强度。K=Q/P，是晶体部分和非晶部分之间的单位物质的相对散射因子】
由上式已知，XRD残余应力检测平台，若温度K也已知，则即可求出样品的结晶点。但相对干同一个试模而言，K是常量。人们可利用测定二个不同结晶度的同一试模来计算出K值，从而得出试样的结晶度。
相对结晶度
如果将K值取1则Xc=Ic/(Ic+Ia)，即为相对结晶度。
这个统计方法虽然不准确，但对试样也存在择优取向，且同晶相合非晶相的化学成分也相同，可认为，该法有比较意义。其实，得到结晶性相当麻烦，所以相对结晶度反而是比较常用的办法。
分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ
【注意:λ为X guang线的长度，n则为的正整数，即衍射级数】
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Jade将衍射峰宽度大于3°的峰为非晶峰。通过衍射图谱的拟合，可以直接得到样品的结晶度。
在计算结晶度时，同一系列的样品，应当选择相同的衍射角范围。
正确地分离晶相峰和非晶峰往往比较困难，比较容易实现的方法是只用Jade的“手动拟合”命令，而不使用自动拟合命令。拟合过程中，拟合的好坏并不能真实地从“R值”上表现出来，而应当仔细观察“误差放大线”的水平程度和光滑程度，越平越越光滑表明拟合得越好。不断地在不平直和不光滑的位置加入新的峰并进行拟合，终将得到一条拟合佳的曲线。
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