CT检测X射线利用率
首先，CT系统的设计是否紧凑是一个至关重要的因素。 这不仅仅影响机型的大小，更重要的是它决定了X射线的利用率。众所周知，X射线（光子）会随着传播距离的增加而衰减，并且基本上遵循衰减与距离的平方成反比的规律，换言之，CT检测报价，X射线源与探测器之间的距离越长，X射线的利用率就越低。因此，将CT系统设计得越紧凑越好是首要的原则之一。
CT检测原理
工业CT是在射线检测的基础上发展起来的，其基本原理是：让一束X射线投射在物体上，通过物体对X射线的吸收（多次投影）便可获得物体内部的物质分布信息。
当强度为I0的一个窄束X射线穿过吸收系数为的物体时，CT检测价格，其强度满足指数衰减关系：
式中为X射线所穿过物质层厚度。在实际情况中，所研究的物体往往不是由单一成分组成的，当物体由若干个不同成分组成时，物体内部各处的穿透率也将可能不同。
CT检测平板探测器
平板探测器通常用表面覆盖数百微米的闪烁晶体（如CsI）的非晶态硅或非晶态硒做成。像素尺寸127 或200μm，CT检测方案，平板尺寸大约45cm（18in）。读出速度大约3～7.5帧/s。优点是使用比较简单，河北CT检测，没有图像扭曲。图像质量接近于胶片照相，基本上可以作为图像增强器的升级换代产品。主要缺点是表面覆盖的闪烁晶体不能太厚，对高能X 射线探测效率低；难以解决散射和窜扰问题，使动态范围减小。在较高能量应用时，必须对电子电路进行射线屏蔽。一般说使用在150kV以下的低能效果较好。
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