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胶片选择

AAB用C5B C4类或更高类别的胶片。

用y 进下限值 R40MP高强度材料射线检测时，应采用 C4 类或更高类别的胶片。

透照布置

胶片透照技术，本部分允许以下两种胶片透照技术:单胶片透照技术使用单张胶片。X 射线(100kV) 和 T170 射线源只允许采用单胶片透照技术。l双胶片透照技术使用两张分类等级相同或相近的胶片。

透照方式 应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的照方式。在可以实施的情况下应优先选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录 E。安放式和插式管缝应先选择源在外照式。插人式座焊缝源在内透照方式时，应优先选择射线源放置在支管轴线上的透照布置。透照方向透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，并应与工件表面法线重合，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。

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用于焊缝检测的探头为了检测铁磁性材料的焊缝，应使用特殊设计的焊缝检测探头。探头的组装可以是差动式、正交式、正切式或与之等效的方式，采用这些方式的目的是使探头在焊缝和热影响区受材料电导率、磁导率和提离效应等变化的影响小。探头的直径应根据被测工件的几何形状来选择。探头在接触面上覆盖了非金属耐磨薄层材料后仍应能正常工作。如果探头采用封装结构，在校准过程中封装外壳与校准试块表面应始终处于接触的状态。探头应能在1kHz~1MH范围内的任意选定的频率下正常工作，检测设备的校验设备应经有资格的实验室校准。该校准工作应至少每年度进行一次。 应对检测设备进行周期性的检查和调节来校验仪器的功能。在现场进行检测时，如发现检测设备产生错误或部分变化，也应对仪器进行功能的检查和调节。

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无损检测方法的能力范围和局限性

磁粉检测

能力范围

1能检测出铁磁性材料中的表面开口缺陷和近表面缺陷。

局限性:

1、难以检测几何结构复杂的工件;

2、不能测铁性料件。

磁粉检测的具体要求应按照NB/T 47013.4 的规定执行。