元器件失效分析-苏州特斯特-元器件失效分析报价

射线照相法（RT）是指用X射线或γ射线穿透试件，以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法，元器件失效分析，该方法是基本的，应用的一种非破坏性检验方法。原理：射线能穿透肉眼无法穿透的物质使胶片感光，当X射线或γ射线照射胶片时，与普通光线一样，能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜影，由于不同密度的物质对射线的吸收系数不同，照射到胶片各处的射线强度也就会产生差异，便可根据暗室处理后的底片各处黑度差来判别缺陷。

漏气检测

设备型号：德国INFICON/UL5000及法国ADIXEN/ASM192TD+

主要技术参数：

1、测量范围（Pa·m3/s）：1×10-2～5×10-13

2、检漏口对氦气的抽速：30m3/h

3、双灯丝180°磁偏转质谱室

4、检测压力范围0～30MPa

用途：具备真空、吸等多种检测模式，可开展氦质谱真空检漏、正压检漏；并具备针对密封元器件的背压法检漏能力，元器件失效分析报价，进行粗检及细检；可有效检测出被检件材料、焊缝、螺接、粘接、内密封等存在的贯穿型通道（漏孔）并可定位、定量。同时实验室具备十万级洁净检测环境。

需要考虑的是X射线束视场直径或称锥束角。 进行微焦点X射线检测，元器件失效分析价格，当焦距很近时，锥束角或视场范围非常重要。例如，25°锥角的微焦点X射线机的曝光次数要小于15°锥角的微焦点X射线机在检测相同范围时的曝光次数。苏州特斯特电子科技有限公司，元器件失效分析公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。

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