光纤拉曼光谱仪厂家-光纤拉曼光谱仪-北京择优乐成

光谱仪的性能

光谱仪的性能主要是由光谱范围、光学分辨率和灵敏度来决定。对以上其中一项参数的变动通常将影响其它的参数的性能。光谱仪主要的挑战不是在制造时使所有的参数指标达到，而是使光谱仪的技术指标在这个三维空间选择上满足针对不同应用的性能需求。这一策略使光谱仪能够满足客户以的投资获取的回报。这个立方体的大小取决于光谱仪所需要达到的技术指标，光纤拉曼光谱仪厂家，其大小与光谱仪的复杂程度以及光谱仪产品的价格相关。光谱仪产品应该完全符合客户所要求的技术参数。

1、发射光谱测量

发射光谱测量可以用不一样的实验布局和波长范围来实现，还要用到余弦校正器或积分球。发射光谱测量可以在紫外/可见和可见/近红外波长范围内测量。

针对发射光谱的测量，光谱仪可以配置成波长范围从200-400nm或350-1100nm，或组合起来实现紫外/可见200-1100nm，并可以在美国海洋光学公司的定标实验室里进行辐射定标。定标后的实验布局不可以改变，如光纤和匀光器都不可以更改。

2、LED测量

比较简单而且迅速地测量LED的整个光通量的方法就是使用一个积分球，并把它连接到一个美国海洋光学公司的光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标（LS-1-CAL-INT），然后用广州标旗软件从测量到的光谱分布计算出相关参数，并实现辐射量的测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μW/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数：辐射量μW/cm2，μJ/cm2，μW或μJ；光通量lux或lumen，色轴X，Y，Z，x，y，z，光纤拉曼光谱仪厂家，u，v和色温。

3、薄膜厚度测量

光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，光纤拉曼光谱仪，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。

光纤光谱仪

在上世纪九十年代以来，微电子领域中的多象元光学探测器（例如CCD，光电二极管阵列）制造技术迅猛发展，使生产低成本扫描仪和CCD相机成为可能。德国MUT公司的光谱仪使用了同样的CCD(CCD光谱仪)和光电二极管阵列探测器，可以对整个光谱进行快速扫描，不需要转动光栅。光纤光谱仪通常采用光纤作为信号耦合器件，将被测光耦合到光谱仪中进行光谱分析。由于光纤的方便性，用户可以非常灵活的搭建光谱采集系统。光纤光谱仪的优势在于测量系统的模块化和灵活性。德国MUT的微型光纤光谱仪的测量速度非常快，可以用于在线分析。而且由于采用了低成本的通用探测器，降低了光谱仪的成本，从而也降低了整个测量系统的造价光纤光谱仪基本配置包括包括一个光栅，一个狭缝，和一个探测器。这些部件的参数在选购光谱仪时必须详细说明。光谱仪的性能取决于这些部件的组合与校准，校准后光纤光谱仪，原则上这些配件都不能有任何的变动。目前，随着光谱行业的快速发展，光纤光谱仪在国内越来越得到认可，其产品性能和质量方面跟国外产品相比几乎差不多。