三菱QD75M1产品特：
输入电压范围：AC100-240V。输出电压：DC5V。
输出电源：2A。
薄型电源。
简化程序调试
可使用带执行条件的软元件测试功能，在程序上的任意步，
将软元件值更改为用户值QD75M1。
以往在调试特定回路程序段时，需要追加设定软元件的程序，
而目前通过使用本功能，无需更改程序，即可使特定的回路程序段单独执行动作。
因此，不需要单独为了调试而更改程序，调试操作更简单。
自动备份关键数据
将程序和参数文件自动保存到无需使用备份电池的程序存储器（Flash ROM）中，
以防因忘记更换电池而导致程序和参数丢失QD75M1。
此外，还可将软元件数据等重要数据备份到标准ROM，
以避免在长假期间等计划性停机时，
这些数据因电池电量耗尽而丢失。
下次打开电源时，备份的数据将自动恢复。
通过软元件扩展，更方便创建程序。
位软元件的M软元件和B软元件多可扩展到60K，使程序更容易理解QD75M1。
三菱QD75M1参数规格：
输入数：32。输入电压及电流：DC24V 4mA。
应答时间：1/5/10/20/70ms。
321个公共端。
共阳极。
输出数：32。
输出电压及电流：DC12-24V；0.1A/；2A/公共端三菱模块 aj65sbtb1-16b。
应答时间：1ms。
321个公共端、漏型；40针连接器。
带热保护。
带短路保护。
带浪涌吸收器三菱模块 aj65sbtb1-16b。
借助采样跟踪功能缩短启动时间
利用采样跟踪功能，方便分析发生故障时的数据，
检验程序调试的时间等，可缩短设备故障分析时间和启动时间。
此外，在多CPU系统中也有助于确定CPU模块之间的数据收发时间。
可用编程工具对收集的数据进行分析，
高速处理，生产时间缩短，更好的性能。
随着应用程序变得更大更复杂，缩短系统运行周期时间是非常必要的。
通过高的基本运算处理速度1.9ns，可缩短运行周期。
除了可以实现以往与单片机控制相联系的高速控制以外，
还可通过减少总扫描时间，提高系统性能，
防止任何可能出现的性能偏差。
方便处理大容量数据。
以往无法实现标准RAM和SRAM卡文件寄存器区域的连续存取，
在编程时需要考虑各区域的边界。
在高速通用型型QCPU中安装了8MB SRAM扩展卡，
可将标准RAM作为一个连续的文件寄存器，
容量多可达4736K字，从而简化了编程三菱fx1n通信。
因此，即使软元件存储器空间不足，
也可通过安装扩展SRRAM卡，方便地扩展文件寄存器区域程控器fx1n-60mt东莞。
变址寄存器扩展到了32位，从而使编程也可越了传统的32K字，
并实现变址修饰扩展到文件寄存器的所有区域。
另外，变址修饰的处理速度对结构化数据（阵列）的运算起着重要作用，
当变址修饰用于反复处理程序（例如从FOR到NEXT的指令等）中时，可缩短扫描时间。
三菱QX41Y41P 321个公共端、漏型40针连接器 DC输入/晶体管输出模块 QX41Y41P调制解调器接口模块 QJ71CMON
差动输出定位模块 QD70D4
串行ABS同步编码器 Q170ENC
CC-Link/LT模块 QJ61CL12
电能测量模块 QE81WH
DC型输入模块 QX81
差动输出定位模块 QD75D1
高速型电压/电流输入模拟量模块 Q64ADH
存储卡 Q1MEM-512SE
同轴总线模块 QJ71BR11
Web服务器模块 QJ71WS96
AC型输入模块 QX28
DC型输入模块 QX82
C语言CPU Q24DHCCPU-LS
ID接口模块 QD35ID2
存储卡 Q1MEM-64S
铂电阻型温度调节模块(升级版) Q64TCRTN
型CPU Q06HCPU
电压/电流输入模拟量模块 Q68AD-G
存储卡 Q1MEM-128S
