英飞思XRF镀层测厚仪优势
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。
>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>钢上锌等防腐涂层
>电路板和柔性PCB上的涂层
>插头和电触点的接触面
>电镀液分析
>镀层，如金基上的铑材料分析
>电镀液分析
>分析电子和半导体行业的功能涂层
>分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn，膜厚仪EDX8000TPlus， Ni/Cu/Fe等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度
云南膜厚仪EDX8000TPlus-英飞思科学(图)由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支高素质的员工队伍，力求提供更好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。英飞思科学——您可信赖的朋友，公司地址：苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室，联系人：张经理。