电子元器件失效分析-元器件失效分析-特斯特

热阻测试仪是一种用于物理学领域的分析仪器，元器件失效分析报价，于2011年01月15日启用。加热电压范围：0~50V，测量精度：-0.009%；加热电流范围：0~10A，测量精度：0.063%；热电偶测量精度：-0.01℃。用于测试LED芯片工作时的PN结温度。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，元器件失效分析，电路板，电子元器件失效分析，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。

微焦点X射线

   EFPscan平面CT（又称plane CT），是面向PCB板和电子器件的CT检测系统，具有2D/2.5D/3D X-ray功能，可以离线检测和在线全检。 采用了的Computed laminography (CL)扫描模式和算法，具备高速扫描获得清晰断层图像的能力。

扫描速度快

具备可编程的自动识别判断功能

可与产线配合，元器件失效分析设备，实现在线检测

PCB板、BGA、CSP、QFP、QFN

功率器件IGBT

开焊、无浸润、气孔、偏移

X射线检测系统在食品安全越来越受到重视的今天，产品品质变得尤为重要，关乎企业的生命和声誉。我们的X射线检测系统被广泛用于产品表面和内部极微小金属和非金属异物检测，同时还可以验证产品完整性，多项质量检查，密封性检验，重量测量，容量填充控制，脂肪含量分析，残骨及鱼刺扫描等其他扩展应用。帮助企业控制产品质量，提高安全性，避免消费投诉与产品召回，实现高成本效益。



电子元器件失效分析-元器件失效分析-特斯特由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司是从事“失效分析设备,检测服务,检测仪器”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供更好的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：宋作鹏。