5 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时，不必拆分，作为非均质检测单元，直接提交检测。
6 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时，不必拆分，可以整体制样（如：0805类贴片类元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分）作为非均质检测单元，直接提交检测。
7 表面处理层应尽量与本体分离（如涂层）；对于确实无法分离的（如镀层），可对表面处理层进行初筛(如使用 X 射线荧光光谱仪（XRF）等手段)，筛选合格则不拆分；筛选不合格，可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液
学溶解提取)。
8 在满足检测结果有效性的前提下，对于经拆分后样品无法满足检测需求量时，可采取
适类，一同制样，直接提交检测
作为中国电子电气产品制造企业非常熟悉的一项指令，其出台历程可谓是一波三折。由于修订过程中各方分歧较大，因此这项本来意欲在2009年就出台的修订案一拖再拖。特别是就是否扩大产品范围和受限物质的范围，欧盟内部包括、欧洲议会、理事会、业界、NGO等都进行了激烈的争论。扩大了产品范围：将所有的电子电气产品都涵盖在了指令规管的范围内（包括线缆和备用零部件），但是给予了新添入的第8类和第9类监视和控制仪器（包括工业监控仪器）一定的过渡期，此外，还针对这两类产品给出了20项的豁免（列于附件IV中）
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，CS995型红外碳硫分析仪，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
苏州英飞思科学-本溪CS995型红外碳硫分析仪由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司位于苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前英飞思科学在分析仪器中享有良好的声誉。英飞思科学取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。英飞思科学全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。